La tecnica X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) permette di caratterizzare la superficie di un campione dal punto di vista composizionale, sia qualitativamente che quantitativamente, fino ad una profondità di 10 nanometri e consente di rilevare i legami chimici formati tra i diversi elementi presenti nello spettro (ossidazione, solfuri-solfati, …)
Sensibilità minima: 0,1% in concentrazione di peso.
Dimensione campioni massima 1cm x 1cm x 1cm (sia solidi che polveri), difficilmente si riesce a fare analisi su campioni curvi.
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